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Defects reduction of amorphous silicon thin film in cyanide solution treatment
Chien Chang Chao, Yu Hao Hu, Chung Kung Lai, Jenq Yang Chang
化學學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
1
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Defects reduction of amorphous silicon thin film in cyanide solution treatment」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
A-Si
100%
Amorphous Silicon
20%
Amorphous Silicon Thin Film
100%
Aqueous Solution
60%
Binding Energy
20%
Cathodoluminescence
20%
Cyanide
40%
Cyanide Ion
60%
Cyanide Solutions
100%
Dark Current
20%
Defect Reduction
100%
Defect States
40%
Etching Process
20%
High Concentration
20%
Immersing Time
20%
KCN Treatment
20%
Low Temperature
20%
Penetrating Depth
20%
Photocurrent
20%
Radiation Intensity
20%
Silicon Atom
20%
Solution Time
20%
Solution Treatment
100%
Spectroscopic Measurement
40%
X-ray Photoelectron Spectroscopy
40%
Material Science
Amorphous Silicon
100%
Cathodoluminescence
16%
Photoemission Spectroscopy
33%
Silicon
16%
Solution
50%
Surface (Surface Science)
16%
Thin Films
100%