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Deconvolution of local surface response from topography in nanometer profilometry with a dual-scan method
Chao Wei Tsai, Chau Hwang Lee,
Jyhpyng Wang
物理學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
30
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Deconvolution of local surface response from topography in nanometer profilometry with a dual-scan method」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Surface Response
100%
Profilometry
100%
Dual Scan
100%
Deconvolution
100%
Local Surface
100%
Scanning Method
100%
Scanning Tunneling Microscopy
50%
Atomic Force Microscopy
50%
Vertical Offset
50%
Differential Confocal Microscopy
50%
Composite Sample
50%
Depth Resolution
50%
Surface Heterogeneity
50%
Engineering
Nanometre
100%
Deconvolution
100%
Response Surface
100%
Atomic Force Microscopy
50%
Scanning Tunneling Microscopy
50%
Surface Heterogeneity
50%
Confocal Microscopy
50%
Open Loop
50%
Chemistry
Scanning Tunneling Microscopy
100%
Atomic Force Microscopy
100%
Confocal Microscopy
100%
Profilometry
100%
Topography
100%
Medicine and Dentistry
Profilometry
100%
Scanning Tunneling Microscopy
25%
Confocal Microscopy
25%
Atomic Force Microscopy
25%
Mathematics
Response Surface
100%