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DC Characteristics and Low-Frquency Noise of AlGaN/GaN HEMTs with Different Gate-to-Source Lengths
Shih Sheng Yang,
Yue Ming Hsin
電機工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「DC Characteristics and Low-Frquency Noise of AlGaN/GaN HEMTs with Different Gate-to-Source Lengths」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
AlGaN-GaN
100%
GaN HEMT
100%
DC Characteristics
100%
Generation-recombination Noise
100%
Drain Current
50%
Activation Energy
50%
Low-frequency Noise
50%
High Transconductance
50%
Threshold Voltage
50%
Low Frequency Noise Measurements
50%
Noise Characteristics
50%
GaN Buffer
50%
Carrier number Fluctuations
50%
Noise Spectral Density
50%
Flicker Noise
50%
Dominant Cause
50%
Engineering
Frequency Noise
100%
Activation Energy
50%
Current Drain
50%
Buffer Layer
50%
Flicker Noise
50%
Noise Power Spectral Density
50%