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Core-based system-on-chip testing: Challenges and opportunities
C. W. Wu,
J. F. Li
, C. T. Huang
電機工程學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
10
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Core-based system-on-chip testing: Challenges and opportunities」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Core-Based
100%
On-chip Testing
100%
Automated Testing
75%
System-on-chip
50%
Core Test
50%
Test Pattern
50%
Chip Test
50%
Popular
25%
Test Wrapper
25%
Plug-and-play
25%
System-on-chip Design
25%
Deep Submicron Technology
25%
Integrated chip
25%
Opportunities for Research
25%
Technology System
25%
Test Scheduling
25%
Automation Etc
25%
Test Access
25%
Test Interface
25%
VLSI chip
25%
Test Integration
25%
Computer Science
System-on-Chip
100%
Test Automation
42%
Research Topic
14%
Technology System
14%
Integration Test
14%
Medicine and Dentistry
Language Test
100%
Engineering
System-on-Chip
100%