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Common-path heterodyne interferometric detection scheme for measuring wavelength shift
Ju Yi Lee
, Der Chin Su
機械工程學系
研究成果
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同行評審
7
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Common-path heterodyne interferometric detection scheme for measuring wavelength shift」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Heterodyning
100%
Common Path
100%
Detection Scheme
100%
Wavelength Shift
100%
Interferometric Detection
100%
Phase Difference
66%
Heterodyne Interferometry
66%
S-polarization
33%
P-polarization
33%
Linearly Polarized Light
33%
Uniaxial Crystal
33%
Common-path Interferometry
33%
Engineering
Interferometry
100%
Detection Scheme
100%
Phase Difference
66%
Polarized Light
33%
Physics
Heterodyne Interferometry
100%
Polarized Light
50%
Interferometry
50%