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Characterization of non-polar surfaces in HVPE grown gallium nitride
Kun Yu Lai
, Judith A. Grenko
, V. D. Wheeler
, Mark Johnson
, E. A. Preble
, N. Mark Williams
, A. D. Hanser
光電科學與工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Characterization of non-polar surfaces in HVPE grown gallium nitride」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
A-plane GaN
25%
Accelerating Voltage
75%
Band Edge
25%
Bulk Samples
25%
C-axis
25%
Cathodoluminescence
75%
Cathodoluminescence Spectra
25%
Edge Defects
25%
Gallium Nitride
100%
GaN Layers
25%
GaN Substrate
25%
High Acceleration
25%
High Concentration
25%
Impurity Concentration
25%
Impurity Defects
25%
Intensity Difference
25%
Low Acceleration
50%
Luminescence
25%
Luminescent Characteristics
25%
M-plane GaN
100%
Mechanical Polishing
75%
Nonpolar Surfaces
100%
Optical Intensity
50%
Scanning Electron Microscopy
25%
Secondary Ion Mass Spectrometry
50%
Surface Damage
25%
Surface Quality
50%
Two-peak
25%
Two-sample
25%
Engineering
Band Edge
33%
Damage Surface
33%
Mechanical Polishing
100%
Nitride
100%
Optical Intensity
66%
Polar Surface
100%
Surface Quality
66%
Material Science
Cathodoluminescence
100%
Gallium Nitride
100%
Luminescence
25%
Scanning Electron Microscopy
25%
Secondary Ion Mass Spectrometry
50%
Surface (Surface Science)
100%
Surface Damage
25%
Surface Property
50%