BUILT-IN TEST FOR VLSI FINITE-STATE MACHINES.

Kien A. Hua, Jing Yang Jou, Jacob A. Abraham

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章同行評審

26 引文 斯高帕斯(Scopus)
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主出版物標題Digest of Papers - FTCS (Fault-Tolerant Computing Symposium)
發行者IEEE
頁面292-297
頁數6
ISBN(列印)0818605405
出版狀態已出版 - 1984

出版系列

名字Digest of Papers - FTCS (Fault-Tolerant Computing Symposium)
ISSN(列印)0731-3071

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