Built-in self-diagnosis and test time reduction techniques for NAND flash memories

Che Wei Chou, Chih Sheng Hou, Jin Fu Li

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

3 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Built-in self-diagnosis and test time reduction techniques for NAND flash memories」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Computer Science