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BIST for clock jitter measurements
Kuo Hsing Cheng
, Shu Yu Jiang, Zong Shen Chen
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
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會議論文
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同行評審
6
引文 斯高帕斯（Scopus）
總覽
指紋
指紋
深入研究「BIST for clock jitter measurements」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Built-in-self-test (BiST)
100%
Clock Jitter
100%
Jitter Measurement
100%
Circuit Testing
40%
Circuit Area
40%
Clock Signal
40%
Measurement Method
20%
Time Measurement
20%
Delay Cell
20%
Time-to-digital Converter
20%
All-digital
20%
Digital Data
20%
Circuit Stability
20%
Circuit Structure
20%
Time-area
20%
High-speed Circuits
20%
Circuit Application
20%
Jitter Free
20%
Improved Circuit
20%
Analog Clock
20%
New Build
20%
Engineering
Built-in Self Test
100%
Test Method
75%
Test Time
50%
Clock Signal
50%
Test Circuit
25%
Measurement Time
25%
Digital Converter
25%
Digital Data
25%
High Speed Circuit
25%
Physics
Self Test
100%
Measurement Method
25%
Time Measurement
25%
Computer Science
build-in self-test
100%
Measurement Method
25%
Digital Converter
25%