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An Impedance-Corrected 2x-Thru Calibration
Chiu Chih Chou
, Jen Hsiang Hsu
電機工程學系
研究成果
:
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期刊論文
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「An Impedance-Corrected 2x-Thru Calibration」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
2x-Thru
100%
Calibration Method
40%
Device Testing
20%
Time Domain Reflectometry
20%
Non-ideality
20%
Calibration Accuracy
20%
S-parameters
20%
De-embedding
20%
Through-reflect-line
20%
Partial Correction
20%
Microwave Calibration
20%
Computer Science
Device under Test
100%
Underlying Algorithm
100%
Time Domain Reflectometry
100%
Engineering
Instrument Calibration
100%
Time-Domain Reflectometry
50%
Measured Data
50%
Simulated Data
50%
Scattering Parameters
50%
Earth and Planetary Sciences
State of the Art
100%
Time Domain Reflectometry
100%