An effective Cu-Sn barrier layer for Au bump used in optoelectronic devices

C. Y. Liu, S. J. Wang

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

5 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「An effective Cu-Sn barrier layer for Au bump used in optoelectronic devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Physics

Material Science