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AlGaN/GaN high electron mobility transistors with a p-GaN backgate structure
W. T. Lin, W. C. Lin, Y. N. Zhong,
Y. M. Hsin
電機工程學系
光電科學研究中心
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「AlGaN/GaN high electron mobility transistors with a p-GaN backgate structure」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
AlGaN-GaN
100%
GaN HEMT
100%
P-GaN
100%
Back Gate
100%
Back-gate Bias
50%
Threshold Voltage
50%
Enhancement-mode (E-mode)
25%
DC Characteristics
25%
Epitaxial Layers
25%
On-state Current
25%
Current Ratio
25%
Layer Design
25%
Leakage Current
25%
D-mode
25%
Off-state Leakage Current
25%
Positive Shifts
25%
Engineering
Current Ratio
100%
Layer Design
100%
Epitaxial Film
100%
Earth and Planetary Sciences
High Electron Mobility Transistors
100%
Threshold Voltage
100%