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Abatement of PFCs from semiconductor manufacturing processes by nonthermal plasma technologies: A critical review
Moo Been Chang
, Jen Shih Chang
環境監測技術聯合中心
土木工程學系
環境工程研究所
研究成果
:
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同行評審
108
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「Abatement of PFCs from semiconductor manufacturing processes by nonthermal plasma technologies: A critical review」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering
Nonthermal Plasma
100%
Manufacturing Process
100%
Semiconductor Manufacturing
100%
Plasma Technology
100%
Potential Application
25%
Gas Streams
25%
Human Health
25%
Pollutant Gas
25%
Greenhouse Gas
25%
Keyphrases
Semiconductor Manufacturing Process
100%
Perfluoro Compounds
100%
Non-thermal Plasma Treatment
100%
Non-thermal Plasma
25%
Greenhouse Gas
12%
Adsorbent
12%
Health Impact
12%
Global Environment
12%
Gas Stream
12%
Semiconductor Industry
12%
Technology Integration
12%
Electron Impact
12%
Efficient Removal
12%
Gaseous Pollutants
12%
Public Attention
12%
Pollutant Gases
12%
Hazardous Air Pollutants
12%
Chemical Engineering
Plasma Technology
100%
Gas Streams
50%
Material Science
Greenhouse Gas
100%