A unified approach to detecting crosstalk faults of interconnects in deep sub-micron VLSI

Katherine Shu Min Li, Chung Len Lee, Chauchin Su, Jwu E. Chen

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14 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A unified approach to detecting crosstalk faults of interconnects in deep sub-micron VLSI」主題。共同形成了獨特的指紋。

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Engineering