A unified approach to detecting crosstalk faults of interconnects in deep sub-micron VLSI

  • Katherine Shu Min Li
  • , Chung Len Lee
  • , Chauchin Su
  • , Jwu E. Chen

研究成果: 雜誌貢獻 › 會議論文 › 同行評審

14 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A unified approach to detecting crosstalk faults of interconnects in deep sub-micron VLSI」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering