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A Shared Parallel Built-In Self-Repair Scheme for Random Access Memories in SOCs
Tsu Wei Tseng,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
23
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A Shared Parallel Built-In Self-Repair Scheme for Random Access Memories in SOCs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Random Access Memory
100%
Built-in Self-repair
100%
Repair Scheme
100%
Parallel Build
100%
Embedded Memory
25%
Redundancy
25%
Area Cost
12%
Chip Area
12%
Chip-level
12%
Repair Method
12%
System-on-chip Design
12%
Wrapper
12%
Area Reduction
12%
Repair Time
12%
Level Control
12%
Typical System
12%
Computer Science
Random Access Memory
100%
embedded memory
40%
System-on-Chip
20%