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A reconfigurable built-in self-repair scheme for multiple repairable RAMs in SOCs
Tsu Wei Tseng
,
Jin Fu Li
, Chih Chiang Hsu
, Alex Pao
, Kevin Chiu
, Eliot Chen
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
›
會議論文篇章
›
同行評審
31
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A reconfigurable built-in self-repair scheme for multiple repairable RAMs in SOCs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Reconfigurable
100%
Built-in Self-repair
100%
Repair Scheme
100%
Built-in Redundancy Analysis
57%
Area Cost
28%
Redundancy
28%
Redundancy Analysis Algorithm
28%
Design Parameters
14%
Data Background
14%
Repair Rate
14%
Defective Memory
14%
Redundancy Analysis
14%
Engineering
Reliability Availability and Maintainability (Reliability Engineering)
100%
Experimental Result
50%
Test Time
50%
Design Parameter
50%
Electric Network Analysis
50%
Time Analysis
50%
Computer Science
Redundancy Analysis
100%
Experimental Result
20%
Design Parameter
20%