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A hierarchical test methodology for systems on chip

  • Jin Fu Li
  • , Hsin Jung Huang
  • , Jeng Bin Chen
  • , Chih Pin Su
  • , Cheng Wen Wu
  • , Chuang Cheng
  • , Shao I. Chen
  • , Chi Yi Hwang
  • , Hsiao Ping Lin

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

18 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文???core.languages.en_GB???
頁(從 - 到)69-81
頁數13
期刊IEEE Micro
22
發行號5
DOIs
出版狀態已出版 - 9月 2002

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