A hierarchical test methodology for systems on chip

Jin Fu Li, Hsin Jung Huang, Jeng Bin Chen, Chih Pin Su, Cheng Wen Wu, Chuang Cheng, Shao I. Chen, Chi Yi Hwang, Hsiao Ping Lin

研究成果: 雜誌貢獻期刊論文同行評審

19 引文 斯高帕斯(Scopus)
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頁(從 - 到)69-81
頁數13
期刊IEEE Micro
22
發行號5
DOIs
出版狀態已出版 - 9月 2002

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