A fast and sensitive built-in current sensor for IDDQ testing

  • Chih Wen Lu
  • , Chung Len Lee
  • , Jwu E. Chen

研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

18 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A fast and sensitive built-in current sensor for IDDQ testing」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering