A fast and sensitive built-in current sensor for IDDQ testing

Chih Wen Lu, Chung Len Lee, Jwu E. Chen

研究成果: 書貢獻/報告類型會議論文篇章同行評審

18 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「A fast and sensitive built-in current sensor for IDDQ testing」主題。共同形成了獨特的指紋。

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