A carrier escape study from InAs self-assembled quantum dots by photocurrent measurement
W. H. Chang, T. M. Hsu, C. C. Huang, S. L. Hsu, C. Y. Lai, N. T. Yeh, J. I. Chyi
研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）