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A built-in self-Test scheme for classifying refresh periods of DRAMs
Chia Ming Chang, Yong Xiao Chen,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「A built-in self-Test scheme for classifying refresh periods of DRAMs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Built-in-self-test (BiST)
100%
Period Method
40%
Power Reduction Techniques
20%
Refresh Energy
20%
Refresh Interval
100%
Engineering
Built-in Self Test
100%
Test Method
100%
Computer Science
build-in self-test
100%
Effective Method
50%