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A built-in redundancy-analysis scheme for RAMs with 3D redundancy
Yi Ju Chang, Yu Jen Huang,
Jin Fu Li
電機工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
4
引文 斯高帕斯(Scopus)
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指紋
指紋
深入研究「A built-in redundancy-analysis scheme for RAMs with 3D redundancy」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Random Access Memory
100%
Built-in Redundancy Analysis
100%
Analysis Scheme
100%
Redundancy
100%
Built-in Self-repair
60%
Repair Rate
40%
Area Overhead
20%
Repair Method
20%
Repair Scheme
20%
Analysis Module
20%
Embedded Memory
20%
Cluster Faults
20%
Computer Science
Random Access Memory
100%
Redundancy Analysis
100%
Experimental Result
20%
embedded memory
20%