跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
A BIST scheme with the ability of diagnostic data compression for RAMs
Chih Sheng Hou,
Jin Fu Li
, Ting Jun Fu
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A BIST scheme with the ability of diagnostic data compression for RAMs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Built-in self test
100%
Data compression
87%
Data storage equipment
49%
Compressors
17%