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A BIST scheme with the ability of diagnostic data compression for RAMs
Chih Sheng Hou,
Jin Fu Li
, Ting Jun Fu
電機工程學系
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
8
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「A BIST scheme with the ability of diagnostic data compression for RAMs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Random Access Memory
100%
Built-in-self-test (BiST)
100%
Diagnostic Information
100%
Data Compression
100%
Element-by-element
60%
16-bit
40%
Compression System
40%
Dynamic Fault
40%
Area Overhead
20%
Fault Simulation
20%
Compress
20%
Compression Ratio
20%
March Test
20%
Cell Library
20%
Engineering
Built-in Self Test
100%
Random Access Memory
100%
Data Diagnostics
100%
Compression Scheme
40%
Simulation Result
20%
Area Overhead
20%
Compression Ratio
20%
Bit Number
20%