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3D shape measurements using phase-encoded patterns and phase-shifting techniques
Ching Cherng Sun
,
Yeh Wei Yu
, Wei Hung Su
光電科學與工程學系
研究成果
:
書貢獻/報告類型
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會議論文篇章
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同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「3D shape measurements using phase-encoded patterns and phase-shifting techniques」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Phase Coding
100%
Phase-shifting Method
100%
3D Shape Measurement
100%
Phase Extraction
66%
High Reliability
33%
Fringe Projection Method
33%
Phase Unwrapping
33%
Absolute Phase
33%
Fringe Pattern
33%
Physics
Diffraction Pattern
100%