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連續柴氏長晶法成長矽單晶過程雜質輸送之數值模擬研究(1/3)
陳, 志臣
(PI)
機械工程學系
概覽
指紋
指紋
探索此專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Physics & Astronomy
ingots
100%
silicon
98%
Czochralski method
75%
crucibles
68%
crystal growth
57%
impurities
40%
supplying
38%
oxygen
36%
pulling
35%
defects
34%
heat transmission
33%
minority carriers
32%
crystals
29%
point defects
29%
furnaces
27%
optimization
20%
electrical resistivity
19%
geometry
17%
temperature
9%