全反射偏振干涉術之開發與折射率量測應用

專案詳細資料

Description

本計畫目的在開發 「全場折射率分佈量測技術」,以解決當前檢測射出成 型透鏡所面臨的問題。 由於射出成型技術有生產效率高、以及塑膠材質重量輕等優點,因此射出成型透鏡 便漸漸地取代了玻璃透鏡,廣泛地應用於各種領域,例如手機鏡頭,車用鏡頭及各 類光學視訊鏡頭等。然而充填、保壓及冷卻等製程參數的變異會嚴重影響透鏡的光學參數,例如折射率與厚度分佈等。傳統的幾何式及干涉式的量測技術都無法同時量測這兩個參數,因為這兩個參數在光學上是耦合在一起的。這也是現今射出成型 生產廠商所面臨的最大挑戰。本計畫將以「全反射之相位差極大值」原理為基礎,設計開發一種創新的「同軸式相位量測系統」,應用於折射率分佈的量測,以解決透鏡曲率、形貌分佈對折射率量測的干擾問題。本計畫的創新亮點在於同軸的偏振干涉設計,不需轉動或移動任何硬體物件,只需透過程式作影像旋轉,即可取得四個相位正交影像,用於相位差量測。也就是說,此技術有one-shot的功能,可以做即時的量測。另一方面,能即時量測出相位差極大值δmax,排除待測物表面形貌不一所產生的入射角變化或入射面旋轉的干擾,適用於曲面或非平面待測物的折射率量測。
狀態已完成
有效的開始/結束日期1/06/2031/05/21

聯合國永續發展目標

聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG),以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此專案有助於以下永續發展目標:

  • SDG 2 - 消除飢餓
  • SDG 11 - 永續發展的城市與社群
  • SDG 17 - 為永續目標構建夥伴關係

Keywords

  • 折射率
  • 全反射
  • 繞射光學元件
  • 相位差極大值
  • 偏振干涉術

指紋

探索此專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。