全反射暨波長調變偏振干涉術之開發與折射率及厚度之量測應用

專案詳細資料

狀態已完成
有效的開始/結束日期1/08/19 → 31/07/20

Keywords

  • 射出成型
  • 折射率
  • 厚度
  • 全反射
  • 繞射光學元件
  • 相位差極大值
  • 波長調制
  • 偏振干涉術