高階太陽光模擬器光譜補償濾光片及光譜失配計之開發

本計畫開發出高階太陽光模擬器，利用干涉的原理製作光譜補償濾光片以及光譜失配計(含有十種濾光片)，提供太陽能發電模組進行發電效率量測，此光譜失配計將從波長範圍300nm-1300nm, 每100nm一塊濾光片，直接分析300nm-1300nm各段光譜的能量比例，且各波段的量測數值與光譜儀在相同波段的積分數值的比值的誤差小於10%，膜層總層數度從帶通濾光片的1300層設計，下降到300層左右，只剩下原先的23%的膜層數，利用此作為快速檢測及長期監控光源的光譜特性、校正太陽光模擬器強度的工具。在學術研究方面，藉由本計畫的投入對用於高階太陽光模擬器的濾光片的光學特性之研發與改善開創嶄新思考方向之外，也帶動國內相關研發機構及產業界對於太陽電池發電效能量測的發展，且將有能力自主開發高階太陽光模擬器的濾光片，在產品應用面上，除了可提供太陽光模擬器外，可投入於對光譜極為敏感的研究領域，例如材料老化的先進研究，新的太陽能發電材料分析，提供設備的製造能力。 經由本計畫，藉由學術界的光學薄膜製程與濾光片設計能力，簡化原本複雜的光路設計結構，加強合作企業的研發能力，重新思維太陽光模擬器的定位，提高光學濾光片在太陽光模擬器所扮演的角色，利用客製化的設計造就技術上優勢，帶動國內相關研發機構及產業界對於太陽電池發電效能量測產業的發展。