深陷阱能級於結晶矽材內部對太陽能電池的影響研究

專案詳細資料

狀態已完成
有效的開始/結束日期1/02/15 → 31/03/16

Keywords

  • deep level transient spectroscopy
  • Schottky diode
  • pn diode
  • x-ray fluorescence
  • secondaryion mass spectrometry
  • high-resolution transmission electron microscopy
  • minority carrier lifetime