應用於運算記憶體之前瞻可靠度及測試框架-總計畫暨子計畫一：應用於運算記憶體之測試技術

運算記憶體被認為解決范紐曼運算架構資料移動頻頸的最有效方法之一，尤其在深度神經網路運算應用上。本總計畫的目標為開發應用於運算記憶體之架構、演算法至電路層級可靠度增強技術，包含可靠度感知運算記憶體架構、測試、容錯及近似、老化偵測及緩解等技術。以提升運算記憶體在量產的良率及現場使用的可靠度使用。此子計畫主要著重於開發運算記憶體測試技術，包括瑕疵分析、缺陷為基礎之瑕疵摺疊、測試演算法、瑕疵定位演算法、及診斷演算法。創新性在於提出完整SRAM-based及RRAM-based 運算記憶體測試方法論。