跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立中央大學 首頁
說明與常見問題
English
中文
首頁
人才檔案
研究單位
研究計畫
研究成果
資料集
榮譽/獲獎
學術活動
新聞/媒體
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
以即時製程監控關鍵技術進行電漿輔助化學氣相沉積設備開發及製程最佳化
Lee, Chien-Chieh
(PI)
光電科學研究中心
概覽
指紋
研究成果
(1)
專案詳細資料
狀態
已完成
有效的開始/結束日期
1/06/15
→
31/05/16
檢視所有
檢視較少
指紋
探索此專案觸及的研究主題。這些標籤是根據基礎獎勵/補助款而產生。共同形成了獨特的指紋。
Passivation Quality
Keyphrases
100%
Structural Investigation
Keyphrases
100%
Stacked Layer
Keyphrases
100%
A-Si
Keyphrases
100%
Interface Quality
Keyphrases
100%
Electrical Investigations
Keyphrases
100%
Surface (Surface Science)
Material Science
100%
Carrier Lifetime
Material Science
66%
研究成果
每年研究成果
2017
2017
2017
1
期刊論文
每年研究成果
每年研究成果
Structural and electrical investigations of a-Si:H(i) and a-Si:H(n+) stacked layers for improving the interface and passivation qualities
Hsieh, Y. L.,
Lee, C. C.
, Lu, C. C.,
Fuh, Y. K.
, Chang, J. Y.,
Lee, J. Y.
&
Li, T. T.
,
1 7月 2017
,
於:
Journal of Photonics for Energy.
7
,
3
, 035503.
研究成果
:
雜誌貢獻
›
期刊論文
›
同行評審
Stacked Layer
100%
A-Si
100%
Passivation Quality
100%
Interface Quality
100%
Electrical Investigations
100%
3
引文 斯高帕斯(Scopus)