每年專案
個人檔案
研究領域
電子設計自動化,晶片老化緩解與可靠晶片設計,低功耗晶片設計最佳化,記憶體內運算(IMC)
晶片配電網(PDN)設計與優化,AI於EDA之應用
與 UN SDG 相關的專業知識
聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG)，以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此人的作品有助於以下永續發展目標：
指紋
查看啟用 Yu-Guang Chen 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 1 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
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人工智慧在前瞻電子設計自動化技術的應用(II)-子計畫三：用機器學習進行負偏壓溫度不穩定性於異構多核心系統之偵測與減緩(2/2)
Chen, Y.-G. (PI)
1/08/21 → 31/07/22
研究計畫: Research
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BASIS SHARING: CROSS-LAYER PARAMETER SHARING FOR LARGE LANGUAGE MODEL COMPRESSION
Wang, J., Chen, Y. G., Lin, I. C., Li, B. & Zhang, G. L., 2025, 13th International Conference on Learning Representations, ICLR 2025. International Conference on Learning Representations, ICLR, p. 39540-39558 19 p. (13th International Conference on Learning Representations, ICLR 2025).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
CIM for Transformer Models: Enhancing Large Language Model Inference Efficiency
Li, M. S., Ke, J. F., Huang, E. M., Liu, Z. W., Chen, Y. G. & Lee, C. Y., 2025, IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2025 - Conference Proceedings. IEEE Computer Society, (Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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CORA: Improving Computational Throughput in Compressor-Based MAC Designs via Carry-Out Replaced Multiply-Accumulator
Tang, L. L., Chen, Y. G. & Jou, J.-Y., 2025, 2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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FastGDBN: A GPU-Accelerated DNN for Identifying Good Dies in Bad Neighborhoods
Tsao, Y. H. & Chen, Y. G., 2025, Proceedings - 2025 IEEE European Test Symposium, ETS 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings of the European Test Workshop).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Harnessing Deep Neural Networks for Rapid Knife Wound Identification in Forensic Science: A Proof-of-concept Study
Wei, C. T., Lee, J. C. L. & Chen, Y. G., 2025, 於: Sensors and Materials. 37, 5-3, p. 2115-2133 19 p.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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