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2024
Enabling the wide memory window and long endurance in hafnia-based FeFET from the perspective of interfacial layer
Tsai, Y. T., Chen, Y. T., Liu, C. R., Wang, S. M., Chen, Z. K., Pai, C. S., Huang, Z. R. & Tang, Y. T., 29 2月 2024, 於: Japanese Journal of Applied Physics. 63, 2, 028004.研究成果: 雜誌貢獻 › 評論/辯論
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