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查看斯高帕斯 (Scopus) 概要
吳 子嘉
教授, 化學工程與材料工程學系系主任
化學工程與材料工程學系
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2009
Erratum: In situ measurements of thermal and electrical effects of strain in flip-chip silicon dies using synchrotron radiation X-rays (Journal of Electronic Materials (2009) 38:11 (2308-2313) DOI: 10.1007/s11664-009-0934-9))
Wu, A. T.
,
Tsai, C. Y.
,
Kao, C. L.
,
Shih, M. K.
,
Lai, Y. S.
,
Lee, H. Y.
&
Ku, C. S.
,
12月 2009
,
於:
Journal of Electronic Materials.
38
,
12
,
p. 2786
1 p.
研究成果
:
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