陳 昇暉

研究成果

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每年研究成果

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• 2009

  System for measuring optical admittance of a thin film stack

  Chen, S. H., Wu, K., Kuo, C. C., Ma, S. J. & Lee, C. C., 2009, 於: Optical Review. 16, 4, p. 479-482 4 p.

  研究成果: 雜誌貢獻 › 回顧評介論文 › 同行評審

  • electrical impedance 100%
  • interferometers 77%
  • refractivity 50%
  • thin films 49%
  • vibration 31%
  2 引文 斯高帕斯（Scopus）