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Using Enhanced Test Systems Based on Digital IC Test Model for the Improvement of Test Yield
Yeh, C. H., Chen, J. E., Chang, C. J. & Huang, T. C., 1 4月 2022, 於: Electronics (Switzerland). 11, 7, 1115.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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Wafer Defect Pattern Labeling and Recognition Using Semi-Supervised Learning
Li, K. S. M., Jiang, X. H., Chen, L. L. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 1 5月 2022, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 35, 2, p. 291-299 9 p.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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Wafer Scratch Pattern Reconstruction for High Diagnosis Accuracy and Yield Optimization
Li, K. S. M., Chen, L. L. Y., Liao, P. Y. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chou, L., Tsai, N. C. Y., Cheng, K. C. C., Han, G. C. H., Lee, C. S., E Chen, J., Liang, H. T. & Hsu, C. L., 2022, (已被接受) 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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Automatic Inspection for Wafer Defect Pattern Recognition with Unsupervised Clustering
Li, K. S. M., Li-Yang Chen, L., Cheng, K. C. C., Yi-Yu Liao, P., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Tsai, N., Chou, L., Han, G. C. H., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 24 5月 2021, Proceedings - 2021 IEEE European Test Symposium, ETS 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9465457. (Proceedings of the European Test Workshop; 卷 2021-May).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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Hidden Wafer Scratch Defects Projection for Diagnosis and Quality Enhancement
Li, K. S. M., Liao, P. Y. Y., Cheng, K. C. C., Chen, L. L. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chou, L., Han, G. C. H., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 2月 2021, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 34, 1, p. 9-16 8 p., 9273073.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審