李 進福

研究成果

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• 2015

  Hierarchical test integration methodology for 3-D ICs

  Chou, C. W., Li, J. F., Yu, Y. C., Lo, C. Y., Kwai, D. M. & Chou, Y. F., 1 7月 2015, 於: IEEE Design and Test. 32, 4, p. 59-70 12 p., 7096969.

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  5 引文 斯高帕斯（Scopus）