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與 UN SDG 相關的專業知識
聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG)，以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此人的作品有助於以下永續發展目標：
指紋
查看啟用 Jin-Fu Li 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
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過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
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Behavioral Model Compiler for Simulating Read Disturbances and Read/Write Errors in STT-MRAMs
Chuan, Y. T., Su, L. Y., Huang, S. H. & Li, J. F., 2025, 2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (2025 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications, VLSI TSA 2025 - Proceedings of Technical Papers).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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Hardware Trojan Design With Low Overhead and High Destructiveness for STT-MRAM-Based CIMs
Cheng, W. C., Huang, S. H. & Li, J. F., 2025, 於: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 44, 9, p. 3260-3273 14 p.研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審
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Local Trimming Method for Enhancing the Read Reliability of STT-MRAMs
Lin, P. Y. & Li, J. F., 2025, Proceedings - 2025 IEEE European Test Symposium, ETS 2025. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings of the European Test Workshop).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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Efficient Built-In Self-Test Scheme for Inter-Die Interconnects of Chiplet-Based Chips
Huang, Y. C., Lin, P. Y., Li, J. F., Fu, H. S. & Lee, Y. P., 2024, Proceedings - 2024 IEEE International Test Conference, ITC 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 149-156 8 p. (Proceedings - International Test Conference).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Parallel-Check Trimming Test Approach for Selecting the Reference Resistance of STT-MRAMs
Lin, P. Y. & Li, J. F., 2024, Proceedings - 2024 29th IEEE European Test Symposium, ETS 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings of the European Test Workshop).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus）