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物聯網/深度學習
與 UN SDG 相關的專業知識
聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG)，以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此人的作品有助於以下永續發展目標：
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過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
專案
- 15 已完成
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DFT-Enhanced Test Scheme for Spin-Transfer-Torque (STT) MRAMs
Pan, Z. W. & Li, J. F., 2022, Proceedings - 2022 IEEE International Test Conference, ITC 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 489-493 5 p. (Proceedings - International Test Conference; 卷 2022-September).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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Fault Modeling and Testing of RRAM-based Computing-In Memories
Yang, Y. C. & Li, J. F., 2022, Proceedings - 2022 IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 7-12 6 p. (Proceedings - 2022 IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2022).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Foreword: ATS 2022
Li, J. F. & Liou, J. J., 2022, 於: Proceedings of the Asian Test Symposium. 2022-November, p. X研究成果: 雜誌貢獻 › 編者言
開啟存取 -
Testing and Reliability of Computing-In Memories: Solutions and Challenges
Li, J. F., 2022, Proceedings - 2022 IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 55-60 6 p. (Proceedings - 2022 IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2022).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
An Aging-Aware CMOS SRAM Structure Design for Boolean Logic In-Memory Computing
Chang, W., Chen, Y. G., Huang, P. Y. & Li, J. F., 2021, 34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2021. Dilillo, L., Cassano, L. & Papadimitriou, A. (編輯). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT; 卷 2021-October).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus）