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物聯網/深度學習
與 UN SDG 相關的專業知識
聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG)，以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此人的作品有助於以下永續發展目標：
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查看啟用 Jin-Fu Li 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
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過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
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Parallel-Check Trimming Test Approach for Selecting the Reference Resistance of STT-MRAMs
Lin, P. Y. & Li, J. F., 2024, Proceedings - 2024 29th IEEE European Test Symposium, ETS 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings of the European Test Workshop).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
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An On-Line Aging Detection and Tolerance Framework for Improving Reliability of STT-MRAMs
Chen, Y. G., Huang, P. Y. & Li, J. F., 16 1月 2023, ASP-DAC 2023 - 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference, Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 13-18 6 p. (Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Fault-Aware ECC Scheme for Enhancing the Read Reliability of STT-MRAMs
Wu, M. S., Chua, Y. L., Li, J. F., Chuan, Y. T. & Huang, S. H., 2023, Proceedings - 7th IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - 7th IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2023).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
3 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Hardware Trojans of Computing-In-Memories: Issues and Methods
Huang, S. H., Cheng, W. C. & Li, J. F., 2023, 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2023. Cassano, L., Psarakis, M., Traiola, M. & Bosio, A. (編輯). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
3 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Testing of Computing-In Memories: Faults, Test Algorithms, and Design-for-Testability
Li, J. F., 2023, 36th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2023. Cassano, L., Psarakis, M., Traiola, M. & Bosio, A. (編輯). Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT).研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus）