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許 鈞瓏

副教授

20022024

每年研究成果

個人檔案

研究領域

用於深度學習加速器晶片設計的軟體\/硬體協同設計,數據驅動的能源效率晶片設計,SDC（軟體定義晶片\/chiplet）EDA技術,GAI（Generative AI）晶片設計技術

與 UN SDG 相關的專業知識

聯合國會員國於 2015 年同意 17 項全球永續發展目標 (SDG)，以終結貧困、保護地球並確保全體的興盛繁榮。此人的作品有助於以下永續發展目標：

  1. SDG 7 - 經濟實惠的清潔能源
    SDG 7 經濟實惠的清潔能源

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過去五年中的合作和熱門研究領域

國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
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  • Special Session: Architecture-Level DCIM Technologies for Edge AI Computing Applications

    Hsu, C. L., Chen, H. Y. & Chen, Y. L., 2024, 37th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2024. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., (Proceedings - IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT).

    研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

  • Wafer Defect Pattern Labeling and Recognition Using Semi-Supervised Learning

    Li, K. S. M., Jiang, X. H., Chen, L. L. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chen, J.-E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 1 5月 2022, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 35, 2, p. 291-299 9 p.

    研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

    28 引文 斯高帕斯（Scopus）

  • Wafer Scratch Pattern Reconstruction for High Diagnosis Accuracy and Yield Optimization

    Li, K. S. M., Chen, L. L. Y., Liao, P. Y. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chou, L., Tsai, N. C. Y., Cheng, K. C. C., Han, G. C. H., Lee, C. S., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 1 5月 2022, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 35, 2, p. 272-281 10 p.

    研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

    9 引文 斯高帕斯（Scopus）

  • Automatic Inspection for Wafer Defect Pattern Recognition with Unsupervised Clustering

    Li, K. S. M., Li-Yang Chen, L., Cheng, K. C. C., Yi-Yu Liao, P., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Tsai, N., Chou, L., Han, G. C. H., Chen, J.-E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 24 5月 2021, Proceedings - 2021 IEEE European Test Symposium, ETS 2021. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9465457. (Proceedings of the European Test Workshop; 卷 2021-May).

    研究成果: 書貢獻/報告類型 › 會議論文篇章 › 同行評審

    1 引文 斯高帕斯（Scopus）

  • Fault-Aware Dependability Enhancement Techniques for Phase Change Memory

    Lu, S. K., Li, H. P., Miyase, K., Hsu, C. L. & Sun, C. T., 8月 2021, 於: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA). 37, 4, p. 503-513 11 p.

    研究成果: 雜誌貢獻 › 期刊論文 › 同行評審

    2 引文 斯高帕斯（Scopus）
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