Li, K. S. M., Chen, L. L. Y., Liao, P. Y. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chou, L., Tsai, N. C. Y., Cheng, K. C. C., Han, G. C. H., Lee, C. S., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 1 5月 2022, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.35, 2, p. 272-28110 p.
Li, K. S. M., Li-Yang Chen, L., Cheng, K. C. C., Yi-Yu Liao, P., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Tsai, N., Chou, L., Han, G. C. H., Chen, J.-E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 24 5月 2021, Proceedings - 2021 IEEE European Test Symposium, ETS 2021.Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 9465457. (Proceedings of the European Test Workshop; 卷 2021-May).
Li, K. S. M., Liao, P. Y. Y., Cheng, K. C. C., Chen, L. L. Y., Wang, S. J., Huang, A. Y. A., Chou, L., Han, G. C. H., Chen, J. E., Liang, H. C. & Hsu, C. L., 2月 2021, 於: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing.34, 1, p. 9-168 p., 9273073.